特点与用途

不仅能测试常规材料，更在对各向异性材料（如非立方晶体、液晶）和厚度不均的材料进行测试；测试、分析薄膜厚度及n，k值 ；测量光学元件的反射、透射偏振特性。

技术指标

光谱范围：370-1700nm 600个波长

测量速度：1-5 s

测量参数：Δ(0-360);Ψ(0-90°)

测量精度：Δ=0±0.07° ;Ψ=45±0.05°